Датчики имеют ограниченный ресурс: EC-ячейки, RH-плёнки, мембраны давления. Senseiot рекомендует lifecycle-учёт — статья описывает факторы, интервалы ТО и хранение.
Consumable vs stable
EC 1–3 года; dose, влажность, siloxane.
NDIR, Pt100, piezo — длинный ресурс + cal.
MOS/MEMS — по среде. Каталог.
Факторы ресурса
Dose ускоряет старение EC.
Thermal cycling и condensat.
Shock, перегрузка, ESD — incident log.
Интервалы ТО
EC toxic 6/12 мес.; NDIR 12–24; RH 6–12; pressure 12.
SIL — вдвое чаще.
CMMS поля — Отраслевые решения.
Критерии замены
Не cal, T90×2, шум, poison indicator.
RH >5% dry; pressure stuck.
Proactive EC у end-of-life.
Хранение и перевозка
EC sealed 0–25 °C; rotation stock.
MOS без питания; MEMS ESD.
Caps и desiccant.
Predictive IoT
Drift bias, ABC offset, hysteresis, RMS.
Cloud work orders.
Шлюзы Senseiot — Катalog Запросить предложение.
Оптимизация затрат
Bulk replacement; consignment spares.
Modular probe heads.
SOP и O&M — Отраслевые решения.